アルネアラボラトリ - ファイバーレーザ 3次元計測 BERT 光フィルタ

株式会社アルネアラボラトリ

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新製品情報
超小型フェムト秒ファイバーレーザ　<PFL-200>
	超小型モジュール: 90x70x15mm フェムト秒パルス　Typ.400fs 繰り返し周波数ドリフト: 1kHz/℃以下 PMF出力

電動型波長/帯域幅可変光フィルタ　<CVF-200>
	透過帯域幅可変範囲 : 0.1 ～ 13 nm 中心波長可変範囲 : 1525 ～ 1570 nm バンド外抑圧比 : typ.　50dB以上波長分散量 : ±1ps/nm以下フラットトップ／シャープエッジ >150dB/nm 低損失・低PDL インターフェイス : RS-232, USB or Ethernet

40Gb/s BERT　<SeBERT-400> -40Gb/s ビットエラーレートテスタ-
	パルスパターン発生器(PPG),エラー検出器(ED), MUX/DEMUX内蔵ビットレート：39.8～44.0 Gb/s 40G Serial / 10Gx4ch Parallel BERT対応 PCコントロール(USB接続)

Eye Checker <EYE-2000C> - 光サンプリングオシロスコープ -
	波長範囲 : 1525 - 1560 nm 測定帯域 : 500 GHz以上分解能 : 1 ps 高感度測定 PRBSデータパターン測定

波長/帯域幅可変光フィルタ　<BVF-200>
	透過帯域幅可変範囲 : 0.1 ～ 13 nm 中心波長可変範囲 : 1530 ～ 1570 nm サイドモード抑圧比 : typ. 50dB以上波長分散量 : ±1ps/nm以下フラットトップ／シャープエッジ >150dB/nm 低損失・低PDL

波長/帯域幅可変光フィルタ　<BVF-200CL>
	透過帯域幅可変範囲 : 0.1 ～ 13 nm 中心波長可変範囲 : 1530 ～ 1610 nm サイドモード抑圧比 : typ. 50dB以上波長分散量 : ±1ps/nm以下フラットトップ／シャープエッジ >150dB/nm 低損失・低PDL

新着情報

移転のご案内

弊社は、この度下記の通り移転しましたのでご案内申し上げます。

移転日：2010年4月19日(月)
新住所：
〒141-0031
東京都品川区西五反田6-2-7
ウエストサイド五反田ビルB1F
連絡先：TEL 03-5487-7831
　　　　　FAX 03-5487-7832

イベント

ECOC2010
日時：2010年9月19日(日)-23日(木)
会場： Logotto Fiere Exhibition Centre, Torino, Italy
ブース：260

新製品

超小型フェムト秒レーザ
              <PFL-200>

電動型
   波長/帯域幅可変フィルタ
              <CVF-200>

手動型
　波長/帯域幅可変フィルタ
              <BVF-200>

C+L帯、手動型
   波長/帯域幅可変フィルタ
              <BVF-200CL>

高速光スペクトラムアナライザー
　　　　　　＜OSA-150＞

株式会社アルネアラボラトリ
〒141-0031
東京都品川区西五反田6-2-7 ウエストサイド五反田ビルB1F
Tel: 03-5487-7831 Fax: 03-5487-7832
E-mail: sales@alnair-labs.com

超小型フェムト秒ファイバーレーザ <PFL-200>

電動型波長/帯域幅可変光フィルタ <CVF-200>

40Gb/s BERT <SeBERT-400> -40Gb/s ビットエラーレートテスタ-

Eye Checker <EYE-2000C> - 光サンプリングオシロスコープ -

波長/帯域幅可変光フィルタ <BVF-200>

波長/帯域幅可変光フィルタ <BVF-200CL>

超小型フェムト秒ファイバーレーザ　<PFL-200>

電動型波長/帯域幅可変光フィルタ　<CVF-200>

40Gb/s BERT　<SeBERT-400>
-40Gb/s ビットエラーレートテスタ-

Eye Checker <EYE-2000C>
- 光サンプリングオシロスコープ -

波長/帯域幅可変光フィルタ　<BVF-200>

波長/帯域幅可変光フィルタ　<BVF-200CL>