アルネアラボラトリ - ファイバーレーザ 3次元計測 BERT 光フィルタ

株式会社アルネアラボラトリ

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新製品情報
10Gb/s BERT　<Se BERT-100> -低価格10Gb/s ビットエラーレートテスタ-
	パルスパターン発生器(PPG),エラー検出器(ED), クロックデータリカバリ(CDR)内臓ビットレート：9.95～11.32 Gb/s XFPあるいはSFP+の光送受信モジュール用スロット有 PCコントロール(USB接続)

波長/帯域幅可変光フィルタ　<BVF-100>
	透過帯域幅可変範囲 : 0.2 ～ 10 nm 中心波長可変範囲 : 1530 ～ 1570 nm サイドモード抑圧比 : 40dB以上波長分散量 : ±3ps/nm以下フラットトップ／シャープエッジ低損失・低PDL

Eye Checker <EYE-1000C> - 光サンプリングオシロスコープ -
	波長範囲 : 1525 - 1565 nm 測定帯域 : 500 GHz以上分解能 : 1 ps 高感度測定 PRBSデータパターン測定

高速波長分散測定器 <FDA-2100K> - 高速測定、PMD測定オプション有 -
	高速波長分散測定(CD) 分解能 : 0.05 ps以下偏波分散測定(PMD)オプション有各種波長可変レーザ制御可能

3次元形状計測機 <Eagle3D Series> - 高精度レーザースキャニング3次元計測 -
	非接触レーザースキャニング計測製造ラインに敷設可能最長5m先から測定可能 ±100μmの高精度計測高感度のため金属光沢や黒いものも測定可能※ リフレクタや塗装など不要※ アイセーフ波長の光なので安全性が高い
	（※条件により異なる場合あり）