株式会社アルネアラボラトリ
English
| Japanese
光フィルタ
|
光測定器
|
BERT
|
レーザー光源
|
光増幅器
|
アクセサリ
40Gb/s シリアルビット誤り率測定器 <PPG-400C/EDR-400C>
PDF Download
光フィルタ
波長/帯域幅可変光フィルタ(電動型) <CVF-220/CVF-220CL>
波長/帯域幅可変光フィルタ(マニュアル型) <BVF-200/BVF-200CL>
シャープエッジ波長可変光フィルタ <CFF-200>
高速チューニング波長可変光フィルタ <TEF-100>
Low-cost 波長可変光フィルタ <TEF-200>
波長可変光フィルタモジュール <TFF Series>
狭帯域 波長可変FBGフィルタ <WTF-200>
レーザー光源
狭線幅ITU-Grid波長可変レーザ <TLG-200>
狭線幅連続波長可変レーザ <CTLS150>
超小型フェムト秒パルスレーザ <PFL-200>
10GHz短パルス半導体レーザ <MLLD-200>
広帯域ASE光源 <ASE-200>
DFBレーザ/ポンプレーザなど
光増幅器
ファイバー光増幅器 <SFA-200>
高出力ファイバー光増幅器 <HPA-200>
超低ノイズファイバー光増幅器 <LNA-220>
光コンポーネント
光アイソレータ/カプラ/サーキュレータなど
BERT
40Gb/s シリアルビット誤り率測定器
パルスパターンジェネレータ <PPG-400C>
エラーディテクタ <EDR-400C>
25Gb/s シリアルビット誤り率測定器
パルスパターンジェネレータ <PPG-250C>
エラーディテクタ <EDR-250C>
10Gb/s シリアルビット誤り率測定器 <SeBERT-100>
短パルス測定器
光サンプリングオシロスコープ <EYE-2000C>
オートコリレータ <HAC-200>
FROG 光パルスアナライザ <HR150>
高速波長分散測定器 <FDA-2200>
高速光スペクトルアナライザ <OSA150>
光ディレイライン(電動型) <ADL-100>
光測定器
非接触光電界センシングシステム <EOS Series>
ハンドヘルド光パワーメータ <OPM-100>
ハンドヘルド光マルチメータ <OMM-210>
マルチチャネル光パワーメータ
リターンロス測定器
光ファイバーメンテナンス
光ファイバー端面検査機 <FIM-400/FIM-600>
ファイバーメンテナンスセット
ファイバークリーナ
光ファイバーパッチコード
光アダプタ
光アッテネータ
株式会社アルネアラボラトリ
〒141-0031
東京都品川区西五反田6-2-7 ウエストサイド五反田 B1F
Tel: 03-5487-7831 Fax: 03-5487-7832
E-mail:
sales@alnair-labs.com
HOME
|
製品一覧
|
新着情報
|
会社案内
|
採用情報
|
お問い合わせ
SPAN>
Copyright ©2008-2011 Alnair-Labs Corp.